干涉顯微鏡型號:SGX/6JA | |
、 點 干涉顯微鏡是用來測量*加零件表面(平面、圓柱等外表面)光潔度的儀器。也可以用來測量零件表面刻線、刻槽鍍層(透明)等深度。儀器配以各種附件,還能測量粒狀,加紋路混亂的表面,低反射率的件表面。同時還能將儀器安置在件上,對大型件表面行測量。儀器測量表面不平深度范圍為1-0.03微米,用測微目鏡和照明方法來評定▽10-▽14光潔度的表面。本儀器適用于廠礦企業計量室,*加車間,也適用于等院校,科學研究單位。 二、主要術參數 目鏡:測微目鏡12.5X,測微鼓輪分劃值0.01mm 儀器放大倍數:500X 儀器視場:ф0.25 物鏡:數值孔徑0.65mm,作距離0.5mm 標準鏡:反射率≈50%,低反射率≈4% 作臺:升降范圍5mm,XY方向移動范圍≈10mm,360度旋轉 綠色干涉濾色片:波長λ≈5300A,半寬度▽≈100A 測量表面光潔度范圍:▽10-▽14(相當于測量表面不平深度范圍為0.1um-0.03um) 光源:電珠燈泡6V15W,亮度可調 | ![]() |