材料磁性綜合測量儀       型號；H23033
表面磁光克爾效應研究薄膜磁性質，研究磁光存儲的性，開發新型的密度磁光存儲介質。可用于納米術、巨磁阻、磁電子器件等新磁性材料的研究。將具有大磁致伸縮效應的鐵磁材料晶體研制成新的合金材料，具有很的居里溫度點 , 引發傳統電子信息系統、傳感系統、振動系統等域產生變革。故對材料磁致伸縮性的研究也是材料研究域的又個重點。振動樣品磁強計應用于測量鐵磁、反鐵磁、抗磁等材料的磁性，包括對稀土磁材料、鐵氧體材料、導材料及生物蛋白質的磁性研究。古埃法磁天平用于磁學和磁化學研究，可測量順磁和逆磁磁化率，磁流體的磁矩和磁化性。

　　H23033
 型表面磁光克爾效應實驗系統為基礎，將表面磁光克爾效應、磁致伸縮效應、振動樣品磁強計和磁天平四種測試手段融合在個測量系統當中，共用同臺電磁鐵，整合了信號處理系統。并且在磁致伸縮效應的測量上使用了的方式使得操作更為方便，靈敏度更。

　　儀器主要術參數：

•  實驗平臺 光學減振組合式實驗臺，臺面尺寸 1600 × 1200mm ， M6 螺孔，孔距 25 × 25mm

•  電磁鐵 磁間隙 0-50mm 連續可調

•  *恒流電源 0-7.5A 連續可調

•  半導體激光器 波長 650nm ，輸出率 2mW

•  位移傳感器測量精度 0.1um

•  磁化強度測量精度 10 -6 Am 2

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